高溫試驗(yàn)檢測CMA機(jī)構(gòu)有哪些
發(fā)布時間:2022-08-27
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高溫檢測方法標(biāo)準(zhǔn)有哪些?哪個機(jī)構(gòu)可以提供高溫壽命試驗(yàn)服務(wù)?有關(guān)高溫試驗(yàn)內(nèi)容,下面中科檢測小編帶大家來了解。
高溫試驗(yàn)檢測介紹
高溫測試:是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。
高溫測試檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364, MIL-STD-810F
高溫壽命試驗(yàn)
高溫壽命試驗(yàn)為利用溫度及電壓加速的方法,藉短時間的實(shí)驗(yàn)來評估IC產(chǎn)品的長時間操作壽命。
一般常見的壽命實(shí)驗(yàn)方法有BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent Dielectric Breakdown),對于不同的產(chǎn)品類別也有相對應(yīng)的測試方法及條件,如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。

高溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
1、GJB 150.3A-2009?《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法?第3部分:高溫試驗(yàn)》
2、GJB 360B-2009?《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法108?高溫壽命試驗(yàn)》
3、GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》
4、GJB 367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范?A02高溫試驗(yàn)》
5、GJB 3493-1998?《軍用物資運(yùn)輸條件》
6、GJB 150.3-1986?《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》
7、GJB 4.2-1983?《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)高溫試驗(yàn)》
8、MIL-STD-810F環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)試驗(yàn)[S]?美國國防部,2000
9、IEC60068-2-2:2007?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn):高溫
高溫試驗(yàn)檢測CMA機(jī)構(gòu)
中科檢測是國科控股旗下第三方檢驗(yàn)檢測認(rèn)證機(jī)構(gòu),通過了檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定(CMA)、中國合格評定國家認(rèn)可委員實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可(CNAS)。
中科檢測能提供可靠性測試技術(shù)服務(wù),對于溫度濕度測試可以依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)對產(chǎn)品進(jìn)行測試,并提供可靠的檢測數(shù)據(jù)。幫助廣大客戶把控產(chǎn)品質(zhì)量,減低生產(chǎn)成本、提高生產(chǎn)效率。
高溫試驗(yàn)報(bào)告費(fèi)用及周期,可以咨詢第三方檢測機(jī)構(gòu)-中科檢測,可以嚴(yán)格按照測試標(biāo)準(zhǔn)要求,出具CMA、CNAS報(bào)告。
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